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當前位置:首頁 > 產品中心 > 快速溫變試驗箱 > 快速溫變高低溫試驗箱 > LQ-KS-225PID控溫快速溫變試驗箱

PID控溫快速溫變試驗箱

簡要描述:PID控溫快速溫變試驗箱適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。

  • 產品型號:LQ-KS-225
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-04-08
  • 訪  問  量:846

詳細介紹

產地國產產品新舊全新
產品大小大型升溫速度3℃/min
降溫速率3℃/min內尺寸500*750*600

PID控溫快速溫變試驗箱適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質量之用。 

PID控溫快速溫變試驗箱:產品在設計強度極限下,運用溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內進行循環(huán)時,產品產生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應力,使產品中產生熱應力和應變,透過加速應力來使?jié)摯嬗诋a品的瑕疵浮現[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵,以避免該產品于使用過程中,受到環(huán)境應力的考驗時而導致失效造成不必要的損失,對于提高產品出貨良率與降低返修次數有顯著的效果,另外應力篩本身是一種制程階段的過程,而不是一種可靠度試驗,所以應力篩選是100對產品進行的程序。

滿足試驗方法:

GB/T 2423.1-2008 試驗A:低溫試驗方法GB/T 2423.2-2008 試驗B:高溫試驗方法GJB 150.3A—2009 高溫試驗GJB 150.4A—2009 低溫試驗GB/T2423.22—2008 試驗Nb 溫度變化試驗產品制造標準:GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術條件GB/T11158-2008 高溫試驗箱技術條件GB T5170.1-2008 電工電子產業(yè)環(huán)境試驗設備檢驗方法總則GB/T5170.2 基本參數檢定方法


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