簡要描述:步入式環(huán)境試驗箱廣泛應用于電源電子、計算機、通訊等領域產品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產品,電源供應器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)的溫濕度環(huán)境測試。通過測試檢驗產品的穩(wěn)定性和可靠性。為企業(yè)發(fā)現(xiàn)產品問題,改進提高產品質量,提升品牌競爭力提供強有力的保障。
詳細介紹
產地 | 國產 | 產品新舊 | 全新 |
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產品大小 | 中型 | 控溫方式 | 水冷式 |
升溫速度 | 3℃/min | 降溫速率 | 1℃/min |
內尺寸 | 2000*7000*2000 | 溫度范圍 | RT~+85℃ |
步入式環(huán)境試驗箱廣泛應用于電源電子、計算機、通訊等領域產品(如:計算機整機,顯示器,終端機,車用電子產品,電源供應器,主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等)的溫濕度環(huán)境測試。通過測試檢驗產品的穩(wěn)定性和可靠性。為企業(yè)發(fā)現(xiàn)產品問題,改進提高產品質量,提升品牌競爭力提供強有力的保障。
步入式環(huán)境試驗箱的技術參數(shù):
一、產品名稱 | 恒溫恒濕試驗室 |
1、1型號 1、2設備容積 1、3內箱尺寸 1、4外型尺寸約 | LQ-RM- 1000L W 100 x H 100 x D 100 cm (寬 x高 x深) 約W 155 x H 210 x D 155 cm(寬 x高 x深)(以實際尺寸為準) |
二、參數(shù)性能 | |
2、1測試環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+30℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下 |
2、2溫度使用范圍 | 0℃~+150℃ |
2、3濕度使用范圍 | 30%~95%R.H(參照一般型溫濕度可控制范圍圖,無有源濕、熱負載)
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2、4溫濕度波動度 | 溫度≤±1℃ 濕度≤±3.0%RH (溫度波動度為中心點實測高溫度和低溫度之差的一半) |
2、5溫度均勻度 | ≤±2℃(溫度均勻度為每次測試中實測高溫度和低溫度之差的算術平均值) |
2、6溫濕度誤差 | 溫度:≤±3℃ 濕度:≤±3.0%RH (工作室溫度控制器顯示值的平均溫度減去中心點實測的平均溫度) |
2、7控制精度 | 溫度:≤±0.5℃ 濕度:≤±2.0%(指控制器設定值和控制器實測值之差) |
2、8溫度解析精度 | 0.01℃ (即是溫度范圍可以解析精確到小數(shù)點后面的兩位數(shù)) |
2、9濕度解析精度 | 0.1%R.H (即是濕度范圍可以解析精確到小數(shù)點后面的一位數(shù)) |
2、10升溫時間 | 約3.0℃/分鐘 非線性 空載 |
2、11降溫時間 | 約1.0℃/分鐘 非線性 空載 |
2、12滿足試驗標準 | GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設備 GB/T 5170.5-2008 濕熱試驗設備 GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)低溫試驗方法:試驗A GJB150.3-1986 高溫試驗 GB/T2423.3-2006(IEC60068-2-78:2007)恒定濕熱試驗方法Cab GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) 交變濕熱試驗方法Db GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法 GJB150.9-1986 設備環(huán)境試驗方法:濕熱試驗 GJB4.5-1983 船舶電子設備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗 GJB4.6-1983 船舶電子設備環(huán)境試驗交變濕熱試驗 GJB367.2-1987 通信設備通用技術條件環(huán)境試驗方法411 濕熱試驗 GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗 GB10592-2006 高、低溫試驗箱技術條件 GB/T10589-2008 低溫試驗箱技術條件 GB/T10586-2006 濕熱試驗箱技術條件 GJB150.9-1986 濕熱試驗 (每立方米負載不大于35kg/m3熱容量,濕熱試驗時無有源濕、熱負載) |
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